Подпись:

Машинне індексування дифрактограм

Визначення метрики елементарної комірки синтезованих сполук виконується за машинним методом індексування дифракційних спектрів полікристалічних речовин. Цей метод ґрунтується на алгоритмах, які дозволяють експериментальним значенням міжплощинних відстаней (1/d2) відбиттів поставити у відповідність “кристалографічні” координати атомних сіток (індекси Міллера  hkl), які їх спричиняють. Ці математичні алгоритми базуються на методі Іто і реалізовані у відповідних комплексах програм зокрема в  [Серих В.П. Структурний анализ в порошках и алгоритмах// Сборник программ. –Харьков: Ротапринт ХФТИ. –1980. –112 c.].

Коректний дифракційний спектр, координати відбиттів якого задовольняють нерівності:

,

де  Qi DQi  - відповідно елемент масиву  (1/d2)    та похибка його визначення,   Qmax  - останній елемент масиву, a – величина, що враховує умови погасання,

дозволяє визначити трансляційний паралелепіпед Браве, розмір якого лімітується співвідношенням:

,

де Vоб¢єм трансляційного паралелепіпеду Браве, nексп. – кількість відбиттів спектру.

Якщо дифракційний спектр записано від однофазної речовини, комплекс програм з індексування дає достовірні результати щодо метрики (уточнені значення періодів гратки) та симетрії (дифракційний клас) кристалічної решітки досліджуваної фази. назад

 

Подпись: